Chroma 19301A,致茂Model 19301A：Chroma 19301為繞線元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體緣不良。

Chroma 19301A,致茂Model 19301A：
Chroma 19301為繞線元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測(cè)試滿足大部份功率電感測(cè)試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體緣不良。

• 高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1uH~100uH)
• 10V~1000V脈沖測(cè)試電壓,0.25V測(cè)量解析度
• 高速測(cè)量 120mS(Pulse 1.0,標(biāo)準(zhǔn)充電時(shí)間)
• 具備電感測(cè)量接觸檢查功能
• 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
• 脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz),10bits
• 崩潰電壓分析功能
• 低電壓量測(cè)檔位,提高波形分析靈敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
• 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
• USB波形儲(chǔ)存與畫面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介面

Chroma 19301A,致茂Model 19301A：

Chroma 19301為繞線元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測(cè)試滿足大部份功率電感測(cè)試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體緣不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體緣不良通常是 造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或緣材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。

Chroma 19301為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)， 利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè) 線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過(guò)高速且的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線 圈自體之緣不良，提供功率電感元件進(jìn)行繞線 品質(zhì)及磁芯之耐壓測(cè)試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19301應(yīng)用于低感量繞線元件測(cè)試，zui小 感量可達(dá)0.1uH，針對(duì)低感量測(cè)試特性提供四線 式測(cè)量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補(bǔ)償功 能，可避免因待測(cè)物感量變化大或配線等效電感 而造成測(cè)試電壓誤差大，為低感量繞線元件脈沖 測(cè)試?yán)鳌?

Chroma 19301于自動(dòng)化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速 測(cè)量速度有效縮短測(cè)試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補(bǔ)償功能改善了自動(dòng)化機(jī)臺(tái)配線等效電感之影 響。

全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫面擷取功能，透過(guò)前面板USB儲(chǔ)存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位 使用進(jìn)行樣品分析比對(duì)，大幅提升操作便利性。

量測(cè)技術(shù)

脈沖測(cè)試概論與原理

所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，以一脈沖電壓加于并聯(lián)線圈的振蕩電容(Cs)上，使 并聯(lián)電容與線圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來(lái)了解線圈內(nèi)部狀態(tài)，包含線圈自體之緣、線圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài)(如圖1: 測(cè)試等效電路圖 ) ，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例 如：繞線層間短路、電焊接不良、內(nèi)部線圈或磁芯緣不良等。

波形判定模式
波形面積比較 (AREA SIZE)
將樣本和待測(cè)物彼此之面積大小進(jìn)行比對(duì)，面 積大小與待測(cè)物線圈緣有關(guān)，線圈緣不良 造成波形快速衰減。

波形面積差比較 (DIFFERENTIAL AREA)
對(duì)任意之區(qū)域求出樣本和待測(cè)物差異部分 之面積與判定條件進(jìn)行比對(duì)，與待測(cè)物感量變 化有關(guān)聯(lián)，感量差異造成后段線圈自體震蕩頻 率改變使波形面積差異。

波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION)
以微分演算求出波形上產(chǎn)生之總放電量在與樣本之波形總放電量做比對(duì)。
放電量二次微分偵測(cè) (LAPLACIAN VALUE)
以二階微分演算后，與樣本之讀值做比對(duì)，可 有效檢測(cè)出因電氣放電或電焊接不良引起波 形快速變化現(xiàn)象。

低感量脈沖測(cè)試技術(shù)

Chroma 19301 為針對(duì)低感量繞線元件待測(cè)物而開發(fā)，zui小感量可從0.1uH~100uH產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試，低感量待測(cè)物有別于一般感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用， 因待測(cè)物感量較低相對(duì)于容易受到測(cè)試回路上配線等效電感之影響，使得測(cè)試電壓產(chǎn)生分壓于配線上使待測(cè)物端電壓會(huì)遠(yuǎn)低于量測(cè)時(shí)的設(shè)定電壓，另外如 低感量Power choke其工作電壓應(yīng)用于較低電壓，因此其脈沖測(cè)試電壓通常會(huì)低于一般感量產(chǎn)品。

低電壓檔位
低感量產(chǎn)品如智慧型中的Power choke，其工作電壓較低且體積較小，可測(cè)試電壓相對(duì)較低，因此用于量測(cè)低感量之脈沖測(cè)試設(shè)備需具備較低電壓檔 位來(lái)進(jìn)行波形分析，Chroma 19301具有六個(gè)電壓檔位分別為32V,64V,128V,256V,512V及1024V與zui低0.25V電壓辨識(shí)度，zui小測(cè)試電壓可從10V開始進(jìn)行測(cè) 試，可有效提高波形判定辨識(shí)能力。

四端測(cè)量
一般兩線式層間短路測(cè)試設(shè)備因電壓偵測(cè)在電流回圈內(nèi)部，在 低感量待測(cè)物，測(cè)得電壓與實(shí)際待測(cè)物上有很大差距，Chroma 19301采用雙同軸線四線偵測(cè)方式，大幅提高電壓精度，達(dá)到正確 測(cè)試效果。

崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
Chroma 19301 具有崩潰電壓測(cè)試功能，設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓 及電壓爬升率，利用電壓爬升過(guò)程偵測(cè)波形面積比(Area)與二階微 分偵測(cè)(Laplacian)判定是否超過(guò)設(shè)定值，測(cè)試出線圈可承受電壓強(qiáng) 度，藉由這些功能，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究，針對(duì) 線圈較弱的地方做改善。

接觸檢查功能 ( )
Chroma 19301 于測(cè)試前會(huì)進(jìn)行接觸檢查，避免因?yàn)榻佑|不良或開 路使得內(nèi)部以zui大電壓輸出造成治具端探針接線因高壓而跳火， 導(dǎo)致待測(cè)物受到損壞。并可延長(zhǎng)探針使用壽命。

電壓補(bǔ)償功能 ( )
一般如變壓器等感量較大的線圈進(jìn)行測(cè)試時(shí) ，配線等效感量相對(duì)較小， 但在低感量測(cè)試時(shí)(如0.2uH)， 配線等效感量大小會(huì)影響待測(cè)物上之實(shí)際電壓，尤 其在自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用時(shí)， 降低配線影響是一重要設(shè)計(jì)考量。過(guò)高的配線阻抗會(huì)使低感量測(cè)試時(shí)電壓分壓在測(cè)線上， 導(dǎo)致待測(cè)物上的電壓低于設(shè)定值而無(wú) 法有效檢出不良品。且電感產(chǎn)品感量規(guī)格zui高可達(dá)正負(fù)30%，因此于低感量測(cè)試應(yīng)用時(shí)，會(huì)因待測(cè)物感量變化而造成實(shí)際端點(diǎn)上電壓差異更加明顯，導(dǎo)致 波形面積判定失效或測(cè)試電壓未達(dá)要求之電壓。Chroma 19301 具備電感差異電壓補(bǔ)償功能，改善上述問(wèn)題及降低因感量差異造成于端點(diǎn)上實(shí)際電壓的差 異，進(jìn)而降低誤判的可能性。

高低感量產(chǎn)品測(cè)試
Chroma 19301 除了低感量產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)外，也同時(shí)涵蓋到較高感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用，可從0.1uH ~ 100uH 。于測(cè)試初始進(jìn)行樣品取樣時(shí)，透過(guò)內(nèi)部電感量偵 測(cè)功能得知待測(cè)物感量大小，自動(dòng)切換到合適檔位進(jìn)行測(cè)試(切換點(diǎn)可設(shè)定)，使待測(cè)物在適當(dāng)波形下進(jìn)行比對(duì)測(cè)量，對(duì)使用者操作來(lái)說(shuō)是相當(dāng)便利的一項(xiàng) 功能。單一臺(tái)層間短路測(cè)試器即結(jié)合了高低感量產(chǎn)品測(cè)試應(yīng)用，客戶于生產(chǎn)線上進(jìn)行產(chǎn)品更換時(shí)可省略設(shè)備更換時(shí)間，不僅縮短了產(chǎn)品換線工時(shí)同時(shí)也降 低工廠設(shè)備負(fù)擔(dān)，有助于工廠端生產(chǎn)管理也替客戶節(jié)省設(shè)備資本支出之成本。

產(chǎn)品應(yīng)用

高速自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用
低感量電感應(yīng)用于智慧型或平板電腦等3C產(chǎn)品，產(chǎn)品外觀尺寸趨向輕薄短小設(shè)計(jì)，電感于生產(chǎn)上也采用全自動(dòng)化 測(cè)包機(jī)進(jìn)行生產(chǎn)，其自動(dòng)化機(jī)臺(tái)產(chǎn)速相當(dāng)高，因此產(chǎn)品生產(chǎn)應(yīng)用需搭配高速測(cè)量設(shè)備才能滿足生產(chǎn)條件。為了滿足高 速自動(dòng)化測(cè)試應(yīng)用，Chroma 19301具有超高速測(cè)量功能及雙同軸線四線測(cè)量方式降低配線長(zhǎng)度之影響，可直接搭配層 測(cè)自動(dòng)化機(jī)上應(yīng)用，為客戶自動(dòng)化生產(chǎn)帶來(lái)更大效益。

SMD POWER CHOKE 測(cè)試治具
低感量Power Choke產(chǎn)品體積小，為了使層間短路測(cè)試操作上能更加便利，Chroma 開發(fā)專用之SMD Power Choke四端 測(cè)試治具() ，可搭配19301之電感差異自動(dòng)電壓補(bǔ)償功能特點(diǎn)應(yīng)用，為產(chǎn)品開發(fā)或品保人員帶來(lái)更為方便進(jìn)行測(cè)試 提高測(cè)試效率。

Chroma 19301A,致茂Model 19301A：

Model	Description
19301A	繞線元件脈沖測(cè)試器
A193001	SMD Choke 測(cè)試治具
A193002	1m測(cè)試線+測(cè)試夾
A193003	1m測(cè)試線+截平頭
A193004	1m測(cè)試線 BNC to BNC(含BNC公頭*2)